Le Test JTAG
Le BUS JTAG
Lorsque la stratégie de test a été clairement définie avec l’utilisation du BUS JTAG le test devient plus facile.
Lorsque la stratégie de test a été clairement définie avec l’utilisation du BUS JTAG le test devient plus facile dans la mesure ou le bureau d’étude a bien suivi les préconisations du spécialiste qui a conduit l’étude de testabilité (DFT Designe For Test).
Une fois secondé par le test boundary-scan, le test insitu classique peut être conservé pour couvrir les défauts parmi les éléments à signaux mixtes et/ou circuits passifs.
En outre, cela permet de réduire considérablement la complexité des interfaces de test et par conséquent leur prix.
Le Boundary-scan
L’utilisation du boundary-scan pour le test de circuits numériques complexes
L’utilisation du boundary-scan pour le test de circuits numériques complexes dispense souvent de recourir à une modélisation des circuits intégrés et/ou à des interfaces sophistiquées comme l’utilisation de sondes capacitives sans contacts, mais, souvent décevant à l’usage.
ATE est en mesure de vous proposer de développer des séquences de test JTAG avec la plupart des outils logiciels disponibles comme JTAG tech, Goeple, Temento ou nos propres développements internes directement utilisables avec le système de test in situ